OLED ageing signature characterization under combined thermal and electrical stresses
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
---|
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
---|
LAURENT CANALE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02435745
Soumis le : jeudi 4 avril 2024-16:18:37
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-16:45:14
Archivage à long terme le : vendredi 5 juillet 2024-19:56:25